FT110系列X射線熒光鍍層厚度測量儀
價 格：詢價
產 地：更新時間：2020-12-15 09:41
品 牌：日立型 號：FT110系列
狀 態(tài)：正常點擊量：1441
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產品介紹
FT110系列X射線熒光鍍層厚度測量儀
1.即放即測！
2.10秒鐘完成50nm的極薄金鍍層測量！
3.可無標樣測量！
4.通過樣品整體圖像更方便選擇測量位置！
1. 通過自動定位功能提高操作性
測量樣品時，以往需花費約10秒的樣品對焦，現(xiàn)在3秒內即可完成，大大提高樣品定位的操作性。
2. 微區(qū)膜厚測量精度提高
通過縮小與樣品間的距離等，致使在微小準直器（0.1、0.2mm）下，也能夠大幅度提高膜厚測量的精度。
3. 多達5層的多鍍層測量
使用薄膜FP法軟件，即使沒有厚度標準片也可進行多達5層10元素的多鍍層測量。
4. 廣域觀察系統(tǒng)（選配）
可從***大250×200mm的樣品整體圖像指定測量位置。
5. 對應大型印刷線路板（選配）
可對600×600mm的大型印刷線路板進行測量。
型號 | FT110 |
測量元素 | 原子序號Ti（22）～Bi（83） |
X射線源 | 空冷式小型X射線管
管電壓：50（可變更）kV
管電流：10～1000μA |
檢測器 | 比例計數(shù)管 |
準直器 | ○型： 0.1 mmΦ、0.2 mmΦ 他2種 |
樣品觀察 | CCD攝像頭 |
對焦 | 激光對焦（自動） |
濾波器 | ***次濾波器（自動切換） |
樣品區(qū)域 | [固定]535×530 mm
[電動] 260×210 mm (移動量X:250 mm, Y:200 mm) |
測量軟件 | 薄膜FP法（***大2層、10種元素）、檢量線法 |
安全功能 | 樣品室門聯(lián)鎖、樣品沖突防止功能、儀器診斷功能 |
滬公網安備31011502016460號
