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掃描電子顯微鏡（SEM）
日本電子 JSM-7001F掃描電子顯微鏡
價 格：詢價
產 地：更新時間：2021-01-18 15:04
品 牌：型 號：JSM-7001F
狀 態：正常點擊量：2184
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JSM-7001F熱場發射掃描電子顯微鏡（Thermal Field Emission SEM），是能夠滿足與高分辨率和易用性同樣的分析應用需求的理想平臺。JSM-7001F具有大型、5軸、全對中馬達驅動自動化樣品臺,還有單動作樣品更換氣鎖、它的小束口壓直徑，即使在大電流和低電壓時，也具有適用于EDS、WDS、EBSP和CL的理想結構的擴充性。樣品室可處理直徑為 200mm的樣品。
計算機接口是新的Windows? XP系統，操作簡單，具有快速簡單地切換操作模式的功能鍵。*多可同時查看包括混合信號的四幅實時圖像，單次掃描就可以記錄并馬上存儲全部的四幅圖像。
JSM-7001F掃描電子顯微鏡還支持與EDS、WDS、電子束光刻系統和圖像數據庫的整體化。標準的樣品臺自動化由計算機控制5軸：X、Y、Z、傾斜和對中自轉。
低真空操作
JSM-7001FLV場發射掃描電子顯微鏡具有高分辨率性能，可以在中至高電壓千伏（kV）和更高的束流下對非導電樣品進行成像。因此無需在樣品上鍍金屬膜或碳膜以供導電，即可施用EDS、背散射成像、EBSD等分析技術。這在以下情況中特別有用: 樣品不能修改時，尚需后續測試時，或尚需返回產品線時。
低真空模式規格
樣品室壓力：50 Pa
分辨率：3.0nm（30kV）(BEI)
槍室壓力：5 x 10-7 Pa或更小
采用的氣體：干燥氮氣
滬公網安備31011502016460號
