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            聲學(xué)顯微鏡，學(xué)名是：掃描聲學(xué)顯微鏡Scanning Acoustic Microscope，簡稱SAM。它是基于聲波脈沖反射和透射原理工作的，只要聲波信號在樣品表面或者內(nèi)部遇到聲波阻抗（如遇到孔隙、氣泡等），就會發(fā)生反射。    

SAM主要用于材料淺表層結(jié)構(gòu)分析、材料力學(xué)性能的檢測、無損檢測等。

A、 雜質(zhì)顆粒、夾雜物、沉淀物等

B、 裂紋

C、 分層缺陷、附著物以及其他夾雜物

D、 空洞、氣泡、空隙等

SAM與X-RAY的主要區(qū)別

儀器簡介：德***KSI-SAM 

***、1990年，世界上個做出頻率超過GHz的超1990年，世界上個做出頻率超過GHz的超聲波掃描顯微鏡，到目前為

止，其他同類儀器公司只能做到200MHz 左右；

二，1991年，世界上個在超聲波顯微鏡中做出GHz V（z）, V（f）定量測量系統(tǒng)；

三，1996年，推出世界上臺數(shù)字超聲波顯微鏡；

四，1998年，世界上個做出帶有球面透鏡的超聲波換能器；

五，2002年，世界上個在超聲波顯微鏡上實現(xiàn)材料阻抗測量；

六，2004年，世界上個在超聲波顯微鏡掃描控制平臺中采用空氣墊懸浮線性馬達驅(qū)動的超高精度X-Y掃描系統(tǒng)；

七，2004年，世界上個實現(xiàn)超聲波顯微鏡自動對焦系統(tǒng)，并受到保護；

八，2004年，世界上個實現(xiàn)多探頭同時掃描大件樣品的超聲波顯微鏡系統(tǒng)，并受到保護。