隨著掃描探針顯微鏡（SPM）在二十世紀八十年代的出現，大氣環境中的納米尺度成像成為了可能。該技術使材料表面各種物理特性的表征得以快速持續的發展，然而如何實現納米尺度的的化學結構表征仍是***項挑戰。
拉曼光譜為分子結構和化學組分分析提供了有效的解決方案，廣泛應用于材料科學和生命科學領域。但是這種方法的空間分辨率在很大程度上受限于光學衍射極限。
因此，將這兩種技術結合是極富吸引力和挑戰性的，引領我們進入納米光學的世界。在該領域，HORIBA Scientific 通過幾十年的經驗積累和努力，開發了***套 NanoRaman 的整體解決方案，使其成為***個通用且功能強大、使用簡便、快速可靠的分析工具。
重要特征
高分辨樣品掃描器，掃描樣品面積從納米尺寸至樣品臺極限
全自動操作，極大縮短了測試時間
高空間分辨率，自動成像平臺，多種顯微鏡可視觀察系統
*多只有三面反射鏡，靈敏度和光通量得到極大提高，提高設備穩定性
多光柵自動切換，寬的光譜范圍用于拉曼和 PL 測試
通過針尖增加拉曼光譜 (TERS) 成像，實現 10nm 的空間分辨率
多種 SPM 模式，包括 AFM、導電 AFM、開爾文、STM 模式，可以子在液體和電化學環境下測試，通過 TERS 和 TEPL 技術，可同時獲得化學信息成像通過***臺電腦即可控制及使所有功能。另外，SPM和光譜儀也可以單獨控制使用
采用新***代 50 KHz 高頻調制 SPM 掃描器，遠離生活噪聲，具有高信噪比和穩定性
具有頂部、底部、側向等多個方向拉曼探測能力，滿足各方面應用研究需求
強有力的的物理、化學結構表征工具
? 可同時進行 SPM 和拉曼光譜測試
? 頂部和側向均可使用高數值孔徑 ×100 物鏡，使得同區域測量能獲得更高的空間分辨率，針尖增強拉曼 (TERS) 具有高的信號收集效率
? 通過 SWIFT XS 和 EMCCD 探測器可以實現高通量信號收集能力和快速掃描速度
? 寬光譜范圍：從深紫外到近紅外
? 可選配 HORIBA 拉曼光譜儀系統以獲得高光譜性能
? ***鍵完成“懸臂梁 - 參考激光”對準及調諧頻率優化，無需手動調整
? 換針尖時無需移動樣品，換完針尖后還能很容易回到原來樣品位置
? 通過物鏡掃描器自動完成拉曼激光與 TERS 針尖耦合
? 通過***臺電腦即可完全控制
操作簡單的TERS系統
拉曼和掃描探針顯微鏡可以偶聯成為***套系統，同Omni TM 型號的 TERS 探針，可同時獲取樣品表面形貌和 TERS 光譜。
HORIBA 的 NanoRaman 系統結合 Omni TM 的 TERS 針尖提供了理想的增強方案。
? 適用不同方向的 TERS 耦合 : 頂部、側向和底部
? 多層結構：針尖優化*小化的減少硅襯底中光譜干擾
? 惰性氣體包裝延長針尖的使用壽命
? 具有特殊保護層的 Ag 針尖能夠防止大氣環境下氧化
在 TERS 系統，拉曼激光1聚焦到鍍有金或銀的針尖尖頭2，選擇合適的激發波長，在針尖十幾納米附近產生局域等離子體共振效應3，拉曼信號強度和局域電場成正比，增強的熱點和樣品接近就會極大地增強樣品的拉曼信號，達到 105 或者 106 4。
拉曼和掃描探針顯微鏡可以偶聯成為***套系統，同區域成像測試是在同***個區域內同時或者連續獲得 AFM 圖和拉曼成像圖。
AFM 和其他的 SPM 技術如 STM, 音叉模式（正交力和剪切力）可以提供表面形貌，力學性能，熱學性能，電學和磁學性能以及分子分辨率測試，另***方面共焦拉曼光譜和成像提供材料的化學信息，受到空間分辨率的限制。
HORIBA 提供***系列的測試樣品包括單壁碳納米管和氧化石墨烯，適當的分散可以做 TERS 成像。樣品用來展示 AFM 的分子分辨率，通過 TERS成像展示 20 nm 的空間分辨率。
集成化軟件――***個軟件控制 NanoRaman的數據采集
? 集成化軟件：***個軟件即可控制NanoRaman 整個平臺（包括單獨AFM、拉曼、光致發光、同區域成像測試和 TERS）
? 強大的 Labspec6 軟件：集成多變量分析模塊，***鍵完成PCA,MCR,HCA,DCA 分析
? 獨有的 Spec-top 成像模式：Spec-top為特有的輕敲模式，根據設置的步進輕敲樣品，這樣既保留了針尖的尖銳度，也提高了 TERS 信號的放大倍數。
? Dual-spec 模式：Dual-spec 可以同時獲得近場增強信號和遠場拉曼信號，基于差譜的方法扣除遠場拉曼信號，獲得高空間分辨率的 TERS 成像圖
多變量分析：全矩形掃描區域會消耗大量時間，可以在 AFM 圖上選擇不規則區域來做成像
? 曲線圖：力曲線測試反映材料的硬度或者吸附力分布，力學常數
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