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商品編號：75376

可同時測量薄膜反射率、折射率、透射率的光學薄膜測厚儀

價格：詢價

產(chǎn) 地：更新時間：2021-01-18 17:54

品牌：型號：SRT

狀態(tài)：正常點擊量：1241

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配送方式： 上海自提或三方快遞

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產(chǎn)品特征：

· 易于安裝

· 基于視窗結(jié)構(gòu)的軟件，很容易操作

· 的光學設計，以確保能發(fā)揮出*佳的系統(tǒng)性能

· 基于陣列設計的探測器系統(tǒng)，以確保快速測量

· 獨特的光源設計，有著較好的光源強度穩(wěn)定性

· *多可測量5層的薄膜厚度和折射率

· 在毫秒的時間內(nèi)，可以獲得反射率、透射率和吸收光譜等***些參數(shù)

· 能夠用于實時或在線的厚度、折射率測量

· 系統(tǒng)配備大量的光學常數(shù)數(shù)據(jù)及數(shù)據(jù)庫

· 對于每個被測薄膜樣品，用戶可以利用的軟件功能選擇使用NK數(shù)據(jù)庫、也可以進行色散或者復合模型（EMA）測量分析；

· 可升***至MSP（顯微分光光度計）系統(tǒng)，SRM成像系統(tǒng)，多通道分析系統(tǒng)，大點測量。

· 通過模式和特性結(jié)構(gòu)直接測量。

· 提供的各種配件可用于特殊結(jié)構(gòu)的測量，例如通過曲線表面進行縱長測量。

· 2D和3D的圖形輸出和友好的用戶數(shù)據(jù)管理界面。

系統(tǒng)配置

型號：SRT100

檢測器：雙通道CCD陣列的每個像素2048

光源：氘燈和高功率鹵素燈

光傳輸：光纖

載物臺：黑色鋁合金樣品測量平臺輕松調(diào)整高度，100mmx100mm尺寸

通訊：USB

測量類型：薄膜厚度，反射光譜，透射光譜，折射率

軟件：TFProbe 2.3

電腦需要：常規(guī)配置

電源：110 - 240伏交流電/ 50 - 60Hz的，1.5A

保修：1年

產(chǎn)品規(guī)格

波長范圍：250nm到1100 nm

光斑尺寸：500μm至5mm

樣品尺寸：100mmx100mm

基板尺寸：*多可至50毫米厚

測量厚度范圍*：5nm-50μm

測量時間：*快2毫秒

精確度：優(yōu)于0.5％（通過使用相同的光學常數(shù)，讓橢偏儀的結(jié)果與熱氧化物樣品相比較）

重復性誤差*：小于1A

產(chǎn)品應用:

半導體制造（PR，Oxide, Nitride..）

液晶顯示（ITO，PR，Cell gap... ..）

醫(yī)學，生物薄膜及材料領(lǐng)域等

油墨，礦物學，顏料，調(diào)色劑等

醫(yī)藥，中間設備

光學涂層，TiO2, SiO2, Ta2O5... ..

半導體化合物非晶體，納米材料和結(jié)晶硅

在MEMS/MOEMS系統(tǒng)上的功能性薄膜

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可同時測量薄膜反射率、折射率、透射率的光學薄膜測厚儀

上海非利加實業(yè)有限公司

產(chǎn)品特點

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