梅特勒電子天平XPE205DR
儀器簡介：
XPE分析天平提供卓越的分析稱量性能，并滿足至高的安全性、效率且易于合規。XPE 分析天平重復性低，因此提供更小的稱量值；質量管理特征，例如創新的狀態指示燈 (StatusLight)和獲得專利的靜電檢測 (StaticDetect) 技術，可免除您在稱量方面的擔憂并對獲得值得信賴的結果；憑借各種選件和多個連接選項，XPE 天平可滿足您日益增長的需求。您可在今后數年進行各種稱量；瑞士設計與制造，卓越的品質值得您信賴。
產品特性：
精確的結果：高分辨率技術、采用靈敏度測試的內部校正、內部溫度控制、靜電檢測 (StaticDetect?)
高效操作：彩色觸摸屏、采用 11 種語言的用戶界面、易巧稱量件 (ErgoClip) 用于直接加樣、易于清潔、懸掛式網格秤盤 (SmartGrid)動態圖形顯示 (SmartTrac) 指導的加樣至目標
、自動防風罩、紅外感應器 (SmartSens)，實現用于無需用手接觸的操作
稱量保證：圖形化水平控制系統和分***別警告、***小稱量值 (MinWeigh) 保護、測試管理器、FACT、GWP 和管理員記錄、與用戶及密碼保護、狀態指示燈 (StatusLight)
無縫過程：Quantos 更新就緒、LabX 就緒、射頻識別 (RFID) 通信就緒、***體化去靜電裝置就緒、內置的 RS232 接口和第 2 個接口選件插槽
滬公網安備31011502016460號
