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德***布魯克 光學輪廓儀NPFLEX 3D

NPFLEX 三維表面測量系統

針對大樣品設計的非接觸測試分析系統
靈活測量大尺寸、特殊角度的樣品
gao效的三維表面信息測量
垂直方向亞納米分辨率提供更多的細節
快速獲取測量數據，測試過程迅速gao效

NPFLEX 為大尺寸工件精密加工提供準確測量
布魯克的NPFLEXTM 3D表面測量系統為精密制造業帶來前所未有的檢測能力，實現更快的測量時間，提高了產品質量和生產力。基于白光干涉的原理，這套非接觸系統提供的技術性能超出了傳統的的接觸式坐標測量儀（CMM）和工業***探針式輪廓儀的測量技術。測量優勢包括獲得高分辨的三維圖像，進行快速豐富的數據采集，幫助用戶更深入地了解部件的性能和功能。積累幾十年的干涉技術和大樣本的儀器設計的經驗，NPFLEXTM是di***個可以靈活地測量大尺寸樣品的光學測量系統，而且能夠gao效快捷地獲得從微觀到宏觀等不同方面的樣品信息。

其靈活性表現在可用于測量表征更大的面型和更難測的角度樣品

• 創新性的空間設計使得可測零件（樣品）更大、形狀更多

• 開放式龍門、客戶定制的夾具和可選的搖擺測量頭可輕松測量想測部位

gao效的三維表面信息測量
 

• 每次測量均可獲得完整表面信息,并可用于多種分析目的

• 更容易獲得更多的測量數據來幫助分析

垂直方向亞納米分辨率提供更多的細節
 

• 干涉技術實現每***個測量象素點上的亞納米***別垂直分辨率

• 工業界使用多年業已驗證的干涉技術提供具有統計意義的數據，為日漸苛刻的加工工藝提供保障

測量數據的快速獲取保證了測試的迅速和gao效
 

• ***少的樣品準備時間和測量準備時間

• 比接觸法測量（***條線）更大的視場（***個面）獲得表面更多的數據